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天瑞儀器 EDX 5500H X熒光元素錄井分析儀

簡(jiǎn)要描述:真空形成條件及高靈敏半導(dǎo)體探測(cè)器保障對(duì)巖心中的元素具有超低的檢出限,為錄井平臺(tái)提供更有意義的具體數(shù)據(jù)特征;更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時(shí)檢測(cè)需求
天瑞儀器 EDX 5500H X熒光元素錄井分析儀

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  • 更新時(shí)間:2022-08-24
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天瑞儀器 EDX 5500H X熒光元素錄井分析儀

真空形成條件及高靈敏半導(dǎo)體探測(cè)器保障對(duì)巖心中的元素具有超低的檢出限,為錄井平臺(tái)提供更有意義的具體數(shù)據(jù)特征;更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時(shí)檢測(cè)需求;同時(shí)引入了目前*4096道數(shù)字多道技術(shù),采用進(jìn)口超薄鈹窗有高激發(fā)效率的X射線管,使儀器計(jì)數(shù)率更高,穩(wěn)定性更好,適用面更廣;

優(yōu)化了光路結(jié)構(gòu)、軟硬件可靠性,真空腔體使之性能更好、更便攜;

du特的抗震性設(shè)計(jì),高保護(hù)光路設(shè)計(jì)使得該儀器通過(guò)了第三方quan威機(jī)構(gòu)高低溫、高低頻電動(dòng)振動(dòng)及濕熱等使用認(rèn)證;

在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試、在線檢測(cè)以及各類地質(zhì)勘察多元素檢測(cè)中充分發(fā)揮作用。

 

主機(jī)標(biāo)準(zhǔn)配置:

上照式光路系統(tǒng)直射模式     SDD探測(cè)器      數(shù)字多道處理器    美國(guó)進(jìn)口高壓

進(jìn)口牛津鈹窗X射線管       智能測(cè)試軟件    校正模塊內(nèi)置    封閉式定向散熱系統(tǒng)

高阻尼可動(dòng)防震緩沖支腳     定制CCD高清攝像頭

整套設(shè)備包括X?zé)晒夥治鲋鳈C(jī)、電腦、打印機(jī)、粉碎機(jī)、壓片機(jī)、真空泵

 

錄井行業(yè)應(yīng)用案例

l  巖心成份普查:

僅需簡(jiǎn)單前處理,微量多種元素成分盡在掌握。

 

l  現(xiàn)時(shí)分析

能快速、現(xiàn)場(chǎng)追蹤巖心數(shù)據(jù),圈定油氣邊界。單個(gè)樣品30多種元素測(cè)試僅需1~4分鐘;

 

l  現(xiàn)場(chǎng)分析

    du特的減震、超小的真空腔、超穩(wěn)固樣品靜態(tài)控制結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使儀器可以應(yīng)對(duì)各種現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境的檢測(cè)任務(wù);

 

儀器性能優(yōu)勢(shì):

儀器外形小巧,簡(jiǎn)潔大方,可用于車載和實(shí)驗(yàn)室,使用方法簡(jiǎn)單,測(cè)試效率高;

測(cè)試時(shí)上照式光路設(shè)計(jì)加上真空測(cè)試腔有效杜絕現(xiàn)場(chǎng)環(huán)中粉塵對(duì)探測(cè)器的污染;

準(zhǔn)直器大化設(shè)計(jì)使樣品受激光斑達(dá)150mm2 保證測(cè)試信號(hào)的豐富性,提高測(cè)試準(zhǔn)確度

封閉式定向風(fēng)冷散熱保證X射線管工作溫度穩(wěn)定,延長(zhǎng)X射線管壽命;

分析樣品速度快,快可達(dá)60S,并且可同時(shí)分析40種元素;

高阻尼可動(dòng)支腳防震設(shè)計(jì)加上超穩(wěn)真空控樣設(shè)計(jì)保證了每一個(gè)樣品與光管、探測(cè)器幾何關(guān)系時(shí)刻相一致,屏蔽現(xiàn)場(chǎng)震動(dòng)所造成的影響;

大面積厚晶體SDD探測(cè)器,配上RhX光管以及良好的散熱性,有力地確保測(cè)試穩(wěn)定;

X射線屏蔽設(shè)計(jì)和高分子材料及安全聯(lián)動(dòng)裝置有效保證無(wú)輻射外漏,讓測(cè)試人員安全放心使用

天瑞儀器 EDX 5500H X熒光元素錄井分析儀

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